通过对水树老化程度不同的XLPE电缆施加一个较低的直流阶跃电压,采用快速富里叶变换的方法对含水树XLPE电缆的超低频频谱(0.1~0.001Hz)进行了分析,同时用电桥法记录了在0.1Hz~3MHz频率范围电缆各老化阶段的损耗频谱。实验显示,用超低频损耗检测XLPE电缆的水树化状态的灵敏度较高,由于该方法施加的直流电压较小,不会对电缆绝缘造成损伤,极有可能成为现场检测XLPE电缆劣化状态的有效手段。
介质损耗因数(tanδ)是用来描述介质材料不完善性及电气设备绝缘性能的重要参数之一。一般而论,tanδ越大的绝缘材料或设备绝缘结构,其漏电损耗越大。按定义,某介质试样或电气设备试品的tanδ在数值上应等于在某种频率的检测电压下流过该试样的电阻性电流IR与流过该试样的电流IC的比值。材料的tanδ值近似与所施加的试验电压角频率成反比,或者说介质材料在低频下应有较大的介质损耗因数。
由于一般情况下,电气设备,特别是高压设备的绝缘介质均采用优良介质制造,即使发生绝缘劣化,其工频下的δ之值也非常小,因此tanδ测量属精密微量测量,对测试设备的测量灵敏度要求较高。但在现场的强干扰情况下测量,采用同样的测试设备的测量灵敏度要下降一个数量级以上,故而工频现场精确测量电气设备tanδ的难度很大。